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关于台式X荧光光谱仪计数率不稳定的解决方案

发布时间:2026/1/204

X射线荧光光谱仪的常用探测器有二个:流气计数器和闪烁计数器。闪烁计数器一般很稳定,但是问题常出现在流气计数器上。

今天我们创想仪器光谱仪厂家小编就台式X荧光光谱仪计数率不稳的问题进行一下讲解:

流气计数器窗膜由一块聚酯薄膜、hostaphan膜或聚丙烯薄膜镀上一层很薄(约30nm)的铝膜所构成,由于窗膜承受大气压力,一段时间后随着基体材料的延展,铝膜可能产生裂纹,从而减弱导电性能,这种情况对脉冲高度分布影响不大,但会使计数率不稳定。X射线荧光光谱仪一般都安装1μm甚至0.6μm的窗膜,而不再使用6μm的窗膜,因此流气计数器的窗膜导电性能下降的可能性增大。

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台式X荧光光谱仪

检查方法:在低X射线光管功率情况下,选一个KKα计数率约2000CPS的样品,测定计数率,然后用一个钾含量高的样品取代原样品,将光管调到满功率,保持2分钟,再将X射线光管功率减至原值,测量几个样品,如窗膜导电正常,将得到原计数率,如窗膜导电性能变差,会发现计数率减小,然后慢慢回升至初始值,这时就应调换窗膜。

创想光谱仪目前生产在售的EDX-6000台式X荧光光谱仪融合经验系数法、基本参数法(FP法)等分析方法,测试数据的准确性能得到全面保证。

台式X荧光光谱仪能量色散X荧光光谱仪经验系数法:仪器依据对标准样品的测定,确定影响系数。对标准样品要求高,需和待测样品类型相近,校正模型简单。

台式X荧光光谱仪能量色散X荧光光谱仪 基本参数法(FP法):仪器根据实际检测物质,通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高,计算较复杂,适合缺少对应标样的物质检测。


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